贵阳吐痰信息技术有限公司
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常見(jiàn)的半導(dǎo)體晶圓(Wafer)量測(cè)方法
1.晶圓缺陷粒子檢測(cè)系統(tǒng)顆粒和缺陷:顆粒和缺陷導(dǎo)致晶圓表面不規(guī)則形貌。散射入射光:通過(guò)檢測(cè)散射光來(lái)監(jiān)測(cè)顆粒和缺陷。晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)可以通過(guò)獲取缺陷的(X,Y)坐標(biāo)來(lái)檢測(cè)晶圓上的物理缺陷(顆粒)和圖案缺...
2024-05-27
半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中意義重大
由于晶圓生產(chǎn)附加值極高,因此半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中的地位日益凸顯。2020年,我國(guó)半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)規(guī)模達(dá)到176億元。隨著我國(guó)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的不斷發(fā)展,我國(guó)......
2024-05-27
一文看懂半導(dǎo)體檢測(cè)和量測(cè)設(shè)備行業(yè)發(fā)展趨勢(shì):國(guó)產(chǎn)化空間大
全球檢測(cè)和量測(cè)設(shè)備現(xiàn)狀1、市場(chǎng)規(guī)模全球半導(dǎo)體檢測(cè)和量測(cè)設(shè)備市場(chǎng)規(guī)模來(lái)看,隨著半導(dǎo)體下游消費(fèi)電子和PC等需求2020-2021年市場(chǎng)回暖尤其是2021年明顯增長(zhǎng),......
2024-05-27
共2條
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